Туннельная микроскопия

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 17 Декабря 2013 в 20:18, реферат

Краткое описание

Физика поверхностных явлений в настоящее время является одним
из наиболее интенсивно развивающихся разделов науки. Именно на фундаментальных исследованиях в области физики поверхности твёрдого тела основаны успехи современной микро- и наноэлетроники. Поэтому исследование разнообразных электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел, остаётся актуальной задачей.

Содержание

ВВЕДЕНИЕ 2
1. ТЕОРИТИЧЕСКАЯ ЧАСТЬ 3
1.1 ИСТОРИЯ СОЗДАНИЯ СТМ 3
1.2 УСТРОЙСТВО СТМ 4
1.3 ПРИНЦИП ДЕЙСТВИЯ СТМ 7
2. МЕТОДЫ ПОДГОТОВКИ АТОМНО-ОСТРЫХ ПРОВОДЯЩИХ ЗОНДОВ 9
3. ТЕОРИЯ ТУННЕЛЬНОГО ЭФФЕКТА И ТУННЕЛЬНОЙ СПЕКТРОСОКПИИ 11
3.1. Туннельная спектроскопия 14
4.ОСНОВНЫЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ЗАДАЧИ, РЕШАЕМЫЕ С ПОМОЩЬЮ СТМ. 15
5. МЕТРОЛОГИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ СТМ, ПОГРЕШНОСТЬ И ТОЧНОСТЬ ИЗМЕРЕНИЙ 18
6. ПРИМЕРЫ РЕШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКИХ ЗАДАЧ С ПОМОЩЬЮ СТМ 22
ЗАКЛЮЧЕНИЕ 27
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 28

Вложенные файлы: 1 файл