Туннельная микроскопия
17 Декабря 2013 в 20:18, реферат
Физика поверхностных явлений в настоящее время является одним
из наиболее интенсивно развивающихся разделов науки. Именно на фундаментальных исследованиях в области физики поверхности твёрдого тела основаны успехи современной микро- и наноэлетроники. Поэтому исследование разнообразных электронных, атомных и молекулярных процессов, происходящих на поверхности твердых тел, остаётся актуальной задачей.
Сканирующая зондовая микроскопия
23 Июня 2014 в 13:17, реферат
Прогресс в нанотехнологии стимулировался развитием экспериментальных методов исследований, наиболее информативными из которых являются методы сканирующей зондовой микроскопии, изобретением и в особенности
распространением которых мир обязан нобелевским лауреатам 1986 года – профессору Генриху Рореру и доктору Герду Биннигу.
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) – один из мощных современных методов исследования морфологии и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным
разрешением.
В настоящее время практически ни одно исследование в области физики поверхности и тонкопленочных технологий не обходится без применения методов СЗМ.
Принцип работы электронного микроскопа
23 Июня 2014 в 19:56, реферат
Как же устроен электронный микроскоп?
В чём его отличие от оптического микроскопа, существует ли между ними какая-нибудь аналогия?
Просвечивающая электронная микроскопия
22 Октября 2013 в 01:27, реферат
Усиление интереса к электронной микроскопии объясняется рядом обстоятельств. Это, во-первых, расширение возможностей метода благодаря появлению самых различных приставок: для исследований при низких (до – 150°С) и высоких (до 1200°С) температурах, наблюдения деформации непосредственно в микроскопе, исследования рентгеновских спектров микроучастков (до 1 мкм и менее) объектов, получения изображений в рассеянных электронах и др. Во-вторых, существенное повышение (до 1 Å и менее) разрешающей способности электронных микроскопов, что сделало их конкурентоспособными с автоионными микроскопами в получении прямых изображений кристаллической решетки. Наконец, возможность параллельно с микроскопическими исследованиями детально изучать дифракционные картины вплоть до наблюдения таких тонких деталей, как диффузионное рассеяние электронов.
Принципиальное устройство микроскопа АСМ
29 Сентября 2013 в 16:07, реферат
Разрешающая способность человеческого глаза - около 100 микрометров (0,1 мм), что примерно соответствует толщине волоска. Чтобы увидеть более мелкие предметы, требуются специальные устройства. Изобретенный в конце XVII века микроскоп открыл человеку новые миры, и в первую очередь мир живой клетки. Но у оптического микроскопа есть естественный физический предел разрешения - длина волны света, и этот предел (приблизительно равный 0,5 мкм) был достигнут к концу XIX века. Следующим этапом погружения в глубь микромира стал электронный микроскоп, в котором в роли луча света выступает пучок электронов.
Сканирующая туннельная зондовая микроскопия
06 Июня 2013 в 21:21, реферат
Сканирующий Зондовый Микроскоп (СЗМ) - это прибор, дающий возможность исследования свойств поверхностей материалов от микронного до атомарного уровня. В СЗМ существует три способа исследования поверхностей:
Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ)
Сканирующая силовая микроскопия (ССМ)
Близкопольная сканирующая микроскопия (БСМ).
Общие принципы работы электронного микроскопа
05 Февраля 2014 в 19:50, реферат
Электронный микроскоп является универсальным прибором позволяющим исследовать и анализировать микроструктурные характеристики твёрдых тел. Другой важной чертой получаемых с помощью электронного микроскопа изображений является их объёмность, обусловленная большой глубиной фокуса прибора. Он позволяет также исследовать объекты при очень малых увеличениях, что особенно важно при исследовании физических свойств твёрдых тел и в ряде других областей.
Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод изучения поверхности твердых тел
26 Марта 2014 в 22:00, реферат
Первый сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) был создан сравнительно недавно, в 1982 году. Тем не менее, в настоящее время он нашёл применение во многих научных и производственных лабораториях, и область его использования продолжает интенсивно расширяться.Интерес к СТМ объясняется его уникальным разрешением, позволяющим проводить исследования на атомном уровне. При этом для работы микроскопа не требуется высокий вакуум, в отличии от электронных микроскопов других типов. Он может работать на воздухе и даже в жидкой среде.Применение СТМ позволяет выявить особенности кристаллического строения поверхности различных материалов, её шероховатость с нанометровым разрешением, наблюдать закономерности зародышеобразования при выращивании плёнок, изучать вирусы, молекулы ДНК и т.д.
Классификация методов электронной микроскопии в исследовании веществ и материалов
08 Июня 2013 в 12:00, курсовая работа
Целью курсовой работы является изучение использования электронной микроскопии в экспертном исследовании веществ и материалов.
Цель курсовой работы определила решение следующих задач:
1. Изучить историю электронного микроскопа.
2. Рассмотреть область применения электронной микроскопии в криминалистическом исследовании веществ, материалов и изделий.
3. Проанализировать методы электронной микроскопии в исследовании веществ и материалов.
Строение хлоропластов и митохондрий, видимое в электронном микроскопе, укажите их функции митохондрия лист мембрана клетка
17 Января 2014 в 11:19, контрольная работа
В соответствии с их функцией хлоропласты находятся преимущественно в фотосинтезирующих органах и тканях, обращенных к свету, - в листьях, молодых стеблях, незрелых плодах.
Хлоропласты высших растений имеют примерно одинаковую форму двояковыпуклой линзы. Размеры хлоропластов 5… 10 мкм в длину при диаметре 2…4 мкм.